新天地綠能科技有限公司

儀器規格:

    SEM:

   (1). 電子槍:鎢(W)燈絲
   (2). 解析度:10.0 nm (WD 39 mm, 35kV)
   (3). 倍率: 10X~300,000X
   (4). 加速電壓:15 kV (0.2~40 kV)
   (5). 電子束電流:可連續調整，影像觀察使用0.4 nA

分析一般僅提供下列影像或EDS資料，使用者必須自行製備試片、自備可燒錄光碟（儲存分析資料）和自行判讀演繹資料。使用者必須瞭解所需分析對象及資料種類為何，且原則上必須親身到場參與實驗分析，以免有誤。特殊需求或狀況，請先洽聯絡人或逕洽實驗室主持人研議。
   (1). 二次電子影像(Secondary Electron Image):
      試樣被電子束轟擊，其表層產生的二次電子經收集
    和訊號處理成像，影像對比度可反映試樣表面起伏
    特徵，展現出具三維立體感之表面顯微形貌。
   (2). 背向散射電子影像(Back-Scattered Electron Image):
      背向散射電子的訊號對比主要反映試樣組成元素之
    原子序大小，故其影像可顯示電子束掃瞄區域內成
    分變化和晶相幾何分佈關係。
   (3). 元素定性與定量分析(Chemical Quantitative Analysis):
    定量分析使用自然界礦物和人工氧化物作為標準品
    ，主要元素分析精度可達0.1wt%。